MA 21xx 系列測試治具適用于對數量中等而型號較多的電子組件進行觸探。該測試治具設計作為替換套件系統,可與現有測試系統連接,并通過專門針對被測電子組件而擴展的替換套件運行。其具有以下產品特性:
替換套件系統
高達 2,000 N 的高接觸力
省力的終端位置阻尼開啟機構
可進行模塊化配置的內部接口
無需工具即可快速設置替換套件,無需后續(xù)調校即可使用
帶或不帶測試系統接口
壓緊裝置和探針支承單元可用螺絲固定為*個整體,使針床受到保護(以便儲存/運輸)
使用壽命:500,000 次負載循環(huán)(在實驗室條件下